女人高潮内射99精品_国产第十页_免费的AV网站在线观看国产精品_国产精品va在线播放_大香蕉久久国产精品

您好，歡迎進入深圳市偉峰儀器儀表有限公司網站！
全國服務熱線：15989501235
深圳市偉峰儀器儀表有限公司
您現在的位置：首頁 > 技術文章 > ST-20掌上型方塊電阻測試儀

ST-20掌上型方塊電阻測試儀

瀏覽次數：903更新日期：2020-05-26
ST-20掌上型方塊電阻測試儀是一種依照類似的國家標準和美國A.S.T.M標準，專門測量半導體薄層電阻(面電阻)的新型儀器，可用于測量一般半導體材料、導電薄膜(ITO透明氧化膜)，金屬薄膜……等同類物質的薄層電阻。
 
◆ 特點：

1

 采用九十年代推出的大規模集成電路作為儀器的主要部分，測量準確穩定

2

 低功耗

3

 采用單個電池供電，帶電池欠壓指示

4

 儀器體積僅為：130mmX65mm X23mm

5

 特制之手握式探筆，球形探針、鍍金探針有效接觸被測材料及保護薄膜

6

 探頭帶抗靜電模塊
 
◆ 技術指標：
 

測量范圍

基本量程：方塊電阻10.0-199.9(Ω/口)
擴展量程：方塊電阻100-1999(Ω/口)

測量不確定度

≤5%

探針規格

 探針間距：3.8mm；偏差≤2%；游移率≤0.3%；絕緣電阻≥500MΩ

恒流源

 測量過程誤差：≤±0.8%

電源

 9V疊層電池1節
產品搜索
PRODUCT SEARCH
產品分類
PRODUCT CLASSIFICATION
Contact Us
  • 聯系QQ：2322729356
  • 聯系郵箱：2322729356@qq.com
  • 傳真：86-0755-61605261
  • 聯系地址：深圳市寶安區沙井新和大道127號新城市廣場E1306室

掃一掃  微信咨詢

©2024 深圳市偉峰儀器儀表有限公司 版權所有  備案號：粵ICP備14041131號  技術支持：環保在線    sitemap.xml    總訪問量：541304 管理登陸